Neues Rasterelektronenmikroskop und EBSD-Kamera in COMTES FHT

mikroskopLetzte Woche wurde in der metallografischen Abteilung neues REM - JEOL IT 500 HR installiert. Es ist mit einer Hochgeschwindigkeits-EBSD-Kamera und mit einem ultrafeinem EDS-Detektor von EDAX ausgestattet. Das Mikroskop verfügt auch über einen STEM-Detektor, der die Beobachtung von Mikrogefüge der Metalfolien im Transmissionsmodus ermöglicht.

Die  EBSD-Kamera wurde von der EU, dem Europäischen Fonds für regionale Entwicklung im Rahmen vom Projekt 3DCOVER gefördert.

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